National Instruments stellt den Digitizer PXIe-5162 und die aktualisierte Version des LabView Jitter Analysis Toolkit vor. Dank einer vertikalen Auflösung von 10bit und einer Sample-Rate von 5GS/s können mit dem Digitizer Hochgeschwindigkeitsmessungen mit der vierfachen vertikalen Auflösung gegenüber einem 8-bit-Stand-alone-Oszilloskop durchgeführt werden. Die Bandbreite von 1,5GHz sowie vier Kanäle in nur einem Steckplatz machen den Digitizer zu einem Produkt, das sich für Systeme mit hoher Kanalanzahl eignet.
Jitter Analysis Toolkit erhöht Oszilloskop-Leistung
National Instruments Germany GmbH
-
Erfolgreicher IO-Link Interop Workshop 2026
Am 22. und 23. September fand in Bad Soden der IO-Link Interop Workshop statt. Mit…
-
Maschinen- und Anlagenbau im August: Leichter Dämpfer
Der Auftragseingang im Maschinen- und Anlagenbau in Deutschland ist im August im Vergleich zum Vorjahr um…
-
Safety
Was wurde eigentlich aus … der Sicherheitsschaltgeräte-Familie von Pilz?
In der Titelstory des SPS-MAGAZINs 9/2016 ging es unter dem Titel ‚Wir haben unser Selbstverständnis…
-
Software Defined Automation
Software Defined Factory 2026: SDA stellt den State Layer for Physical AI vor
Als Software Defined Automation am 29. September in die BMW Welt München einlud, ging es…
das könnte sie auch interessieren
-
Funktionale Sicherheit bis SIL 3 und PL e
Servoregler integriert sichere Drehmomentabschaltung
-
T3-qualifiziert bis SIL3
KI-gestütztes Safety-Engineering















