Polytec erweitert sein Produktportfolio für Oberflächenmessungen durch Punktsensoren der TMS TopSens und TMS TopLine Serie. Die neuen Sensoren erlauben die schnelle und wirtschaftliche Charakterisierung von Oberflächen, die Bestimmung der Mikro/Nanotopographie sowie optische Rauheitsbestimmungen und die Dickenmessung von transparenten Proben. Die Sensorsysteme messen auf jeder Oberfläche und jedem Material, sei es reflektierend, poliert oder rau, opak oder transparent. In Kombination mit 3D-Scannern ermöglichen die Punktsensoren 2D- und 3D-Messungen an komplexen Strukturen mit Submikron-Genauigkeit. Die Sensoren erfüllen die neue ISO 25178-Norm und können Rauheiten bis zu wenigen Nanometern messen. Die Systeme sind modular aufgebaut und bestehen aus einem optischen Sensorstift, einem Controller und einem Multimode-Glasfaserkabel.
Polytec GmbH
