RFID-Tags am Prüfstand

CISC Semiconductor entwickelte ein Measurement & Evaluation Test System (MeETS), das die Charakteristiken und Leistungsfähigkeit von Transpondern aufzeigt. Dieses Tool basiert auf NI LabView und gibt unter anderem über die Lesereichweite und Frequenzbereiche von RFID-Tags Auskunft. Es ist in drei Varianten zu haben: als MeETS Library für LabView, als mit MeETS konfigurierte PXI-Hardware von NI und als \’Full System Installation\‘, bei der das ganze System mit Soft- und Hardware angeboten wird. \“Nachdem CISC nicht nur in die ISO Standardisierung involviert, sondern auch bei EPCglobal aktiv ist, wissen wir genau, wo die Schwachstellen eines RFID-Systems liegen. Somit können wir schon vorab Lösungen zur Verfügung stellen, welche die Ingangsetzung von RFID-Anwendungen unserer Kunden vereinfachen. Das European EPC Competence Center vertraut auf das Engineering-Know-how von CISC und wir sind stolz, dass wir nun auch allen anderen RFID-Anwendern ein Tool zur Verfügung stellen können, mit dem sie die Performance ihrer RFID-Tags eindeutig bestimmen können\“, sagt Josef Preishuber-Pflügl, CTO der CISC Semiconductor Design+Consulting GmbH.