Polytec erweitert sein Portfolio für die optische Schichtcharakterisierung um das Hyperspectral-Vision-System VEpioneer von PVA Vision. Das kompakte Messsystem kombiniert optische Spektroskopie mit bildgebender Analyse und untersucht dünne Schichten berührungslos und zerstörungsfrei. Dabei liefert es nicht nur Informationen zu einzelnen Messpunkten, sondern spektrale Daten über die gesamte Probe mit hoher räumlicher Auflösung. So lassen sich neben der Schichtdicke auch Homogenität, lokale Abweichungen, Defekte oder Kontaminationen erkennen. Je nach Material und Anwendung können Schichtdicken von 1nm bis 500µm untersucht werden.
Das vollständig integrierte Benchtop-System eignet sich für unterschiedliche Substrate und Materialien wie Metalle, Glas, Polymere sowie Halbleitermaterialien. Verschiedene Sensorkonfigurationen und Wellenlängenbereiche erlauben die Anpassung an unterschiedliche Messaufgaben.
