Für die Inline-Durchflussmessgeräte der Serie SDI 853 mit Impulsausgang bietet EGE das separate Bedien- und Anzeigegerät SDD, das die Fernablesung und Einstellung der Schaltpunkte des Sensors ermöglicht. Durch diese Konfiguration kann der Sensor bei der Bedienung oder der Funktionalität an unzugänglichen Stellen direkt ins Rohr eingesetzt werden. Programmierbare Funktionen beinhalten zwei Schaltpunkte, Hysterese sowie Ein-/ Ausschaltverzögerung. Alle gespeicherten Parameter sowie der aktuelle Messwert lassen sich über ein 7-Segment-Display ablesen. Die magnetisch-induktiven Sensoren der Serie SDI können zusätzlich auch zur Überwachung von Maximal- und Minimalwerten eingesetzt werden. Der hierfür vorgesehene Schaltausgang lässt sich als Öffner oder Schließer programmieren. Eine Umkehr der Strömungsrichtung wird ebenfalls erkannt – die Messwerte werden dann als negative Werte ausgegeben. Die Strömungswächter bieten einen Erfassungsbereich von 0,2 bis 80l/min. Mit einer maximalen Abweichung von 2% bieten sie Messgenauigkeit für verschiedene flüssige Medien. Das Bediengerät wird über einen fünfpoligen M12-Stecker angeschlossen und ist für die Montage auf Hutschiene oder Montageplatte geeignet. SPS/IPC/Drives: Halle 4A, Stand 330
Durchflussmessung
-
Griffmodul für Schwenk- und Schiebetüren
Ein Produkt-Highlight bei Euchner ist das CTS Gate System, das die kompakte Zuhaltung CTS um…
-
Zwischenkreislose Antriebstechnik für regenerative Anwendungen
Ohne Umweg zum Motor
Mit seinem Matrix-Umrichter U1000 verfolgt Yaskawa einen anderen Ansatz als klassische Frequenzumrichter. Auch wenn die…
-
Anzeige
KI: Schneller zum SPS-Code
KI-unterstützte SPS-Programmierung eröffnet neue Möglichkeiten. Über das Model Context Protocol (MCP) greifen Sprachmodelle direkt auf SPS-Projekte zu. So kann SPS-Code im Entwicklungsalltag automatisiert erstellt, analysiert und dokumentiert werden.
-
Optisches Koordinatenmesssystem
Auf der AMB präsentierte Bruker Alicona mit dem µCMM Neo erstmals auf einer europäischen Fachmesse…
-
Mess- und Regeltechnik für Rechenzentren
Wie sich Rechenzentrumskühlung sicher und effizient regeln lässt
Mit steigenden Leistungsdichten wachsen auch die Anforderungen an die Kühlung von Rechenzentren. Temperaturen, Feuchte, Druck…
-
Flächenhafte Schichtanalyse
Polytec erweitert sein Portfolio für die optische Schichtcharakterisierung um das Hyperspectral-Vision-System VEpioneer von PVA Vision.














