Kongress VIP 2009: Technologieschau für Praktiker

Der Kongress für Mess- und Automatisierungstechnik VIP 2009 von National Instruments bot den etwa 500 Teilnehmern, die den Weg in das Veranstaltungsforum Fürstenfeld bei München gefunden hatten, ein abwechslungsreiches und kurzweiliges Programm. Die zahlreichen Veranstaltungen wie Technologie- und Anwendervorträge, eine große Fachausstellung oder Hands-On-Kurse bildeten nur den Rahmen für die Highlights in diesem Jahr – die Keynotes. Zum Auftakt präsentierte Michael Dams als Gastgeber für die NI Central European Region Perspektiven, wie den aktuellen Herausforderungen am besten begegnet werden kann. Als prominente Gastrednerin konnte National Instruments dieses Jahr Prof. Dr. Marion Schick, Vorstand für Personal und Recht, Fraunhofer-Gesellschaft gewinnen. Sie lenkte den Blick der VIP-Besucher dahin, dass auch das Unmögliche oft möglich ist. Von der Ingenieurausbildung bis zur Spitzenforschung stehen die Zeichen auf Innovation. Frau Prof. Dr. Schick gab in ihrer Keynote einige Impulse mit auf den Weg, nannte wichtige Aspekte und erläuterte, welcher Nutzen daraus gezogen werden kann. Zahlreiche Produktneuheiten